Теоретические возможности увеличения чувствительности токовой отсечки в микропроцессорных защитах

Теоретические возможности увеличения чувствительности токовой отсечки в микропроцессорных защитах
Только для организаций
Автор: 
Родин Н. А., Фомичев А. А.
Вид издания: 
Статья
Год: 
2021
Издательство: 
ИГЭУ
ISSN/ISBN: 
978-5-00062-456-2
УДК: 
621.316
Специализации: 
Каталоги: 
Место публикации:
Иваново
Ключевые слова:
релейная защита, микропроцессорные терминалы РЗ, токовые отсечки, короткое замыкание

Материалы Международной научно-технической конференции "Состояние и перспективы развития электро- и теплотехнологии"(XXI Бенардосовские чтения) / в 3 т. ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Ивановский государственный энергетический университет им. В. И. Ленина", Академия электротехнических наук Российской Федерации. - 2021.- Т. 3: Электротехника. - С. 329-331